工序难点：

关键尺寸多，人工检具实现难度大，传统CMM效率低，成本高。

解决方案：

高精密直角光谱，内外径非接触式测量，结合CCD光学技术，一站式完成多面关键尺寸量测。

优势特点：

1.高精度，精度0.01mm以内；

2.高效率，效率是传统检测的20倍；

3.高通用性，  全自动完成正反两面尺寸。